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S-DSR探測器光譜響應測試系統 ? 寬光譜范圍（200~14000nm可選），適用面廣 ? 調制法測量技術，提升測量結果信噪比 ? 開機即用的Turnkey系統設計，維護簡單 ? 監視光路，方便樣品定位 ? 全反射光路設計，優化光斑質量 ? 高穩定性光源，降低背景噪聲影響 ? 標準測量軟件，數據導出格式支持第三方軟件
光譜變溫附件/探針臺 THMS600 是使用.為廣泛的高精度冷熱臺。其寬泛的溫度范圍（-196°C到 600°C）和升溫速 率（0.1 到 150°C/min），以及高精度（全程 0.1°C）和高穩定（0.01°C），使其在各行業得 到廣泛的應用。
QE-2000熒光量子效率測試系統瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域 的雜散光。
S-MPL系列顯微熒光成像系統 光致發光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光，在半 導體材料的發光特性測量應用中通常是用激光（波 長如325nm、532nm、785nm等）激發材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）產生熒光，通過對其熒光光譜（即PL譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬 度等。
組合熒光系統采用模塊化設計，既可實現穩態、瞬態測量，又能實現UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統多種部件可供選擇（光源、探測器、樣品架、變溫模塊等），能針對研究者實驗的不 同需求量身打造為合適的熒光光譜系統。
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