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OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目： ? 絕.對反射率測量 ? 多層膜解析 ? 光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 ● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理） ● 無驅動部，重復再現性高 ● 設置的測量項目少，測量簡單 ● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長 ● Rth測量、全quan方位角測量 （需要option的自動旋轉傾斜治具 ● 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性 (本系統屬特注。）
●與產線的控制信號同步 ●通過光纖的自由的測試系統 ●實現最短2ms～的光譜測量（LE-5400） ●同以往的產品相比，測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型
可以測量0.01%或更低的單線態氧的產生量子產率。 單線態氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察 可在用于生物應用等的水性溶劑中測量。
采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 獨du特光學系統降低偏振誤差（1％）， 并且像LCD一樣具有偏振特性的樣品也可以進行高精度測量 可以執行最短1秒的高速測量，包括通信時間。 （在連續測量的情況下，可以更快的進行測量，最短約20毫秒/次）
測量精度高 可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率） 可去除再激勵熒光發光 采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系統
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