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  • 深能級瞬態譜測試儀

    深能級瞬態譜儀(DLTS)是檢測半導體材料和器件缺陷和雜質的最好技術手段，它可以測定各種深能級相關參數，如深能級，俘獲界面，濃度分布等。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • 納米壓痕測試設備

    對小體積樣品材料力學性質進行定量化測試的關鍵技術。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • 拉曼光譜分析

    拉曼光譜用來測試材料應力，摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉移，強度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結晶取向，組分，機械應力，摻雜和溫度變化等。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • 原子力顯微鏡

    原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設備，可靈活配置和測試，具備優異測試穩定性和可靠性。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • 反射譜成像技術

    iSR是一種微光斑測試技術，用于實時刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • 光譜型橢偏儀

    光譜型橢偏儀是多功能薄模測試系統，適合各種薄材料的研究。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
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