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  • 少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統

    WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質和光電效率等參數表征。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • WT-2000半導體多功能測試

    WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學參數測試。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • WT-1200A 單點式少子壽命測試系統

    WT-1200A 是單點式少子壽命測試系統，具備無接觸等優點。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • 半導體參數分析儀

    半導體參數分析儀型號有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • PNA系列、ENA、PXI VNA網絡分析儀

    網絡分析儀主要特性和功能：$n· 具有緊湊型頻率擴展器的單次掃描解決方案$n· 可以作為單個產品解決方案一次性購買$n· 對器件施加精確的調平功率，進行功率掃描$n· 提供各種應用軟件，幫助您進行詳細分析

    更新日期：2024-11-08
    型號：PNA系列、ENA、PXI VNA
    廠商性質：生產廠家
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