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詳細介紹
| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
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QE-2000熒光量子效率測試系統
QE-2000瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域 的雜散光。另采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系的同時，運用其再激發熒光補正的優點，可進行高精度的測量。
高精度測量（zhuan.利：5150939號）：使用低雜散光光譜儀MCPD系列
多次激發補正（zhuan：3287775號、4631080號）：大.程度降低樣品所反射的激發光再次照射樣品帶來的多次激發, 對粉末和固體測試精度提高明顯
使用積分半球（zhuan：4216314號）：是普通積分球測試效率的2倍，更易于樣品的裝夾，更換簡單
多種樣品都能對應：粉體、溶液、薄膜、固體等等
可添加溫控系統：-30~300℃
QE-2000熒光量子效率測試系統
型號 | 3683C | 311C | 2580C | 3095C | ||||
波長范圍 | 360-830nm | 360-1100nm | 250-800nm | 300-950nm | ||||
像元波長寬度 | 1.0nm | 0.5nm | 1.6nm | 0.8nm | 1.2nm | 0.6nm | 1.4nm | 0.7nm |
像元數 | 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | 1024 |
CCD | 電子冷卻式CCD圖像傳感器 | |||||||
AD轉換精度 | 16 bit | |||||||
單色器配置 | F/#=3, f=85.8mm | |||||||
光源 | 150W氙燈 | |||||||
激發波長 | 250-800nm | |||||||
帶寬 | FWHM 5nm/slit 0.6mm | |||||||
樣品抗光裝置 | 自動關閉裝置 | |||||||
激發波長控制 | 自動控制 | |||||||
積分球材質 | Spectralon（美國Labsphere公司zhuan.利材料名） | |||||||
尺寸 | 150mm 半球 | |||||||
粉末測試樣 品座 | SU304 | |||||||
溶液樣品池 | 石英制溶液比色皿 | |||||||
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