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| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
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紫外線輻射強度或輻照度中的光分布角分布
最大光度、光束開度、光束光通量
輻射通量、輻射強度、輻照度
總光通量
光譜數據
根據配光測量系統的測量項目
總光通量、色度坐標xy、uv、u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度顯
色指數Ra、R1至R15
峰值波長、半值范圍
* 1：測量期間安裝樣品的方向。
底座朝下：水平面安裝
底座側：垂直面 安裝
*2：配光測量的測量波長范圍為250～850nm
*3：可選產品請參考總光通量測量系統規格頁.
桌面型設備。將 LED 芯片放置在水平面上并進行測量。
受光部一側為1軸，樣品側為1軸的驅動系統。
由于樣品可以放置在平坦的表面上，因此測量再現性和位置調整很容易。
適用于測量LED芯片等不易安裝的小樣品。
桌面型設備。這是一般配光裝置的光學系統。
受光部分與樣品部分高度相同，樣品側采用2軸驅動系統。
它可以處理從芯片類型到小模塊樣品的廣泛產品。
大型設備。安裝需要一個使用一個暗室的地方。
該設備用于測量大而重的光源，如泛光燈。
這是用光譜光分布測量 UV-LED 的結果。
根據輻射強度繪制配光曲線。
通過對光分布測量得到的每個θ處的光譜輻射強度
使用球面系數法，可以得到UV-LED發射的總光譜通量。
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