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線掃描膜厚儀(離線型)

簡要描述:●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測

●硬件&軟件均為創新設計

●作為專業膜厚測定廠商,提供多種支援

●實現高精度測量(已取得專zhuan利)

●實現高速測量(500萬點以上/分)

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:196

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詳細介紹

品牌OTSUKA/日本大冢

產品信息

式樣

線掃描膜厚儀(離線型)

測量案例

250mm寬的薄膜案例

 








上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。

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