色视频www在线播放国产人成_国产综合无码一区二区色蜜蜜 _欧美第一页在线观看_亚洲国产av播放_国产极品白嫩精品

Product Center

產品中心

當前位置:首頁  >  產品中心  >  光譜系統  >  顯微缺陷膜厚  >  膜厚測量系統 FE-3700/5700

膜厚測量系統 FE-3700/5700

簡要描述:可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外,它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:163

推薦產品

詳細介紹

品牌OTSUKA/日本大冢

用法

LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass

TFT
SiN / a-Si / 玻璃

有機EL
有機EL / ITO / 玻璃

PDP
介電層/玻璃








上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。

產品咨詢

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
全國客服
咨詢熱線
021-61052039 在線留言

公司地址:上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造J6區202室
公司郵箱:qgao@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波銘科學儀器有限公司 版權所有    備案號:滬ICP備19020138號-2    sitemap.xml    技術支持:化工儀器網    管理登陸