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汞探針測試

簡要描述:LEI Model2017B,通過汞探針接觸方法,對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試,特別適合GaN.SiC等化合物材料。

  • 產品型號:LEI Model2017B
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:114

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品牌波銘科儀價格區間面議
應用領域醫療衛生,環保,食品,生物產業,綜合

Capability:

  • 可提供多個肖特基結構

  • 特殊設計的肖特基接觸,使串聯電阻最小。

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