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非接觸方塊電阻測試系統

簡要描述:LEI88 是針對科研類客戶開發的產品,具備非接觸快速測試方塊電阻和電導率功能。

  • 產品型號:LEI88
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:139

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詳細介紹

品牌波銘科儀價格區間面議
應用領域醫療衛生,環保,食品,生物產業,綜合

Capability:

  • 非破壞

  • 方塊電阻/電導率測試

  • 適合科研應用






上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。


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