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非接觸遷移率測試系統

簡要描述:LEIModel1605,是非接觸遷移率測試系統,可對各種半導體材料和器件結構進行測試。無需制樣,消除了樣品制備引起的遷移率變化。

  • 產品型號:LEIModel1605
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:115

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詳細介紹

品牌波銘科儀價格區間面議
應用領域醫療衛生,環保,食品,生物產業,綜合

Capability:

  • 快速,非破壞

  • 霍爾遷移率

  • 方塊電阻

  • 提高測試的重復性

  • 與VDP法測試保持一致

非接觸遷移率測試系統








上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。



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