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  • LEI Model2017B汞探針測試

    LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。

    更新日期：2024-11-08
    型號：LEI Model2017B
    廠商性質：生產廠家
  • 汞CV測試系統

    汞CV測試系統，用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試; MCV-530L可測最大200mm的樣品。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • CV-1500非接觸CV測試系統

    CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術，可以進行非接觸C-V/I-V測試。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
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