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  • 少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統

    WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質和光電效率等參數表征。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • WT-2000半導體多功能測試

    WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學參數測試。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • WT-1200A 單點式少子壽命測試系統

    WT-1200A 是單點式少子壽命測試系統，具備無接觸等優點。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
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