色视频www在线播放国产人成_国产综合无码一区二区色蜜蜜 _欧美第一页在线观看_亚洲国产av播放_国产极品白嫩精品

Product Center

產品中心

當前位置：首頁  >  產品中心  >  半導體材料測試  >  霍爾電阻遷移率

  • LEIModel1605非接觸遷移率測試系統

    LEIModel1605，是非接觸遷移率測試系統，可對各種半導體材料和器件結構進行測試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。

    更新日期：2024-11-08
    型號：LEIModel1605
    廠商性質：生產廠家
  • LEI88非接觸方塊電阻測試系統

    LEI88 是針對科研類客戶開發的產品，具備非接觸快速測試方塊電阻和電導率功能。

    更新日期：2024-11-08
    型號：LEI88
    廠商性質：生產廠家
  • 非接觸Hall和方塊電阻測試系統

    非接觸Hal和方塊電陽測試系統，可對GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導體材料設計的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件結構進行測試。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • SRP 擴展電阻測試

    SRP 測試系統，采用擴展電阻率技術(SRP)，對載流子濃度和電阻率隨深度的變化做快速測試。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產廠家
共 4 條記錄，當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
全國客服
咨詢熱線 021-61052039 在線留言

公司地址：上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造J6區202室
公司郵箱：qgao@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波銘科學儀器有限公司 版權所有    備案號：滬ICP備19020138號-2    sitemap.xml    技術支持：化工儀器網    管理登陸