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  • 量子效率測量系統 QE-2100
    量子效率測量系統 QE-2100

    測量精度高可瞬間測量絕對量子效率(絕對量子收率)可去除再激勵熒光發光 采用了積分半球unit,實現了明亮的光學系統

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  • 膜厚量測儀 FE-300
    膜厚量測儀 FE-300

    薄膜到厚膜的測量范圍UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀藉由絕對反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高gao端機種90%的強大功能無復雜設定,操作簡單

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  • 膜厚測量系統 FE-3700/5700
    膜厚測量系統 FE-3700/5700

    可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外,它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。

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  • 線掃描膜厚儀(離線型)
    線掃描膜厚儀(離線型)

    ●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測●硬件&軟件均為創新設計●作為專業膜厚測定廠商,提供多種支援●實現高精度測量(已取得專zhuan利)●實現高速測量(500萬點以上/分)

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  • 線掃描膜厚儀(在線型)
    線掃描膜厚儀(在線型)

    ●采用線掃描方式檢測整面薄膜●硬件&軟件均為創新設計●作為專業膜厚測定廠商,提供多種支援●實現高精度測量(已獲取專zhuan利)●實現高速測量●不受偏差影響●可對應寬幅樣品(TD方向最大可測量...

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  • 紫外分光配光測量系統
    紫外分光配光測量系統

    ●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量●從配光上評估紫外光的最大發光強度、光束開度、光束光通量●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●支持從 LED 芯片到模塊和應用產品的廣泛樣品●用軟件批量控制電源和測...

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  • 紫外分光輻射照度測量系統 New
    紫外分光輻射照度測量系統 New

    ●該檢測器是一種高性能的分光光度計,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果?!窀采w從紫外線到可見光的寬波長范圍●帶軟件的樣品照明電源,測量儀器批量控制●LIV測量,脈沖點測量,樣品溫...

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  • 紫外分光全光譜光通量測量系統
    紫外分光全光譜光通量測量系統

    ●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍●具有紫外線自吸收校正的高精度測量●配備溫度控制單元,可從-110°C進行溫度控制●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●電源、溫控單元、測量儀軟件批量控制

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  • 相位差測量裝置 RETS-100nx New
    相位差測量裝置 RETS-100nx New

    采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策,可對應液晶line內的檢查設備

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  • 液晶層間隙量測設備 RETS series
    液晶層間隙量測設備 RETS series

    采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策,可對應液晶line內的檢查設備

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  • 橢偏儀 FE-5000/5000S
    橢偏儀 FE-5000/5000S

    ●可在紫外和可見(250至800nm)波長區域中測量橢圓參數●可分析納米級多層薄膜的厚度●可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜●通過可變反射角測量,可詳細分析薄膜●通過創建光學...

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  • 總光譜光通量測量系統 HM/FM series
    總光譜光通量測量系統 HM/FM series

    ●可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量●測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準●采用新的探測器,可以進行廣動態范圍的測量●測量部分的尺寸(積分球或積分半球)從φ25...

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